雙通道紫外輻照計(jì)3采用SMT貼片技術(shù),選用高精度低功耗數(shù)字芯片,儀器外殼為流線型設(shè)計(jì),探測(cè)器經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的光譜及角度特性校正,性能穩(wěn)定,適用性強(qiáng)。適用于光化學(xué)、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測(cè)量工作。
時(shí)間:2024-06-21型號(hào):UV-313廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家瀏覽量:774
雙通道紫外輻照計(jì)采用SMT貼片技術(shù),選用高精度低功耗數(shù)字芯片,儀器外殼為流線型設(shè)計(jì),探測(cè)器經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的光譜及角度特性校正,性能穩(wěn)定,適用性強(qiáng)。適用于光化學(xué)、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測(cè)量工作。
時(shí)間:2024-06-21型號(hào):UV-340廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家瀏覽量:856
雙通道紫外輻照計(jì)采用SMT貼片技術(shù),選用高精度低功耗數(shù)字芯片,儀器外殼為流線型設(shè)計(jì),探測(cè)器經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的光譜及角度特性校正,性能穩(wěn)定,適用性強(qiáng)。適用于光化學(xué)、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測(cè)量工作。
時(shí)間:2024-06-21型號(hào):UV-313廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家瀏覽量:716
單通道紫外輻照計(jì)采用SMT貼片技術(shù),選用高精度低功耗數(shù)字芯片,儀器外殼為流線型設(shè)計(jì),探測(cè)器經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的光譜及角度特性校正,性能穩(wěn)定,適用性強(qiáng)。適用于光化學(xué)、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測(cè)量工作。
時(shí)間:2024-06-21型號(hào):UV-340廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家瀏覽量:858
單通道紫外輻照計(jì)采用SMT貼片技術(shù),選用高精度低功耗數(shù)字芯片,儀器外殼為流線型設(shè)計(jì),探測(cè)器經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的光譜及角度特性校正,性能穩(wěn)定,適用性強(qiáng)。適用于光化學(xué)、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測(cè)量工作。
時(shí)間:2024-06-21型號(hào):UV-313廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家瀏覽量:715
雙通道紫外輻照計(jì)已取得中華人民共和國(guó)制造計(jì)量器具許可證和計(jì)量器具型式批準(zhǔn)證書(shū)。
我廠生產(chǎn)的紫外輻照計(jì)執(zhí)行企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)Q/HDSDY0003-2014。
UV-B型紫外輻照計(jì)采用SMT貼片技術(shù),選用高精度低功耗數(shù)字芯片,儀器外殼為流線型設(shè)計(jì),探測(cè)器經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的光譜及角度特性校正,性能穩(wěn)定,適用性強(qiáng)。適用于光化學(xué)、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測(cè)量工作。
時(shí)間:2024-06-21型號(hào):UV-B廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家瀏覽量:688
單通道紫外輻照計(jì)我廠生產(chǎn)的紫外輻照計(jì)已取得中華人民共和國(guó)制造計(jì)量器具許可證和計(jì)量器具型式批準(zhǔn)證書(shū)。UV-A型紫外輻照計(jì)采用SMT貼片技術(shù),選用高精度低功耗數(shù)字芯片,儀器外殼為流線型設(shè)計(jì),探測(cè)器經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的光譜及角度特性校正,性能穩(wěn)定,適用性強(qiáng)。適用于光化學(xué)、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測(cè)量工作。
時(shí)間:2024-06-21型號(hào):UV-B廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家瀏覽量:682
雙通道紫外輻照計(jì) UV-A型紫外輻照計(jì)采用SMT貼片技術(shù),選用高精度低功耗數(shù)字芯片,儀器外殼為流線型設(shè)計(jì),探測(cè)器經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的光譜及角度特性校正,性能穩(wěn)定,適用性強(qiáng)。適用于光化學(xué)、高分子材料老化、紫外光源、以及大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測(cè)量工作。
時(shí)間:2024-06-21型號(hào):UV-A廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家瀏覽量:693